测试装置 专利技术说明

测量装置的制造及其应用技术1.本发明涉及记忆材料技术领域，特别涉及一种测试装置。背景技术：2.形状记忆高分子材料作为一种新型智能材料，具有质量轻、回复率大等优势。根据材料在不同条件刺激下的响应情况，可以将其分为热致型、光致型、磁致型和电致型形状记忆高分子材料等。3.目前，形状记忆高分子材料的/测试装置主要集中在对热致型形状记忆效应的测量上，该类装置只能测量热效应下高分子形状记忆材料的固定率和回复率，但无法用于测量光、磁等不同刺激下材料的形状记忆效应。技术实现要素：4.本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种能够测试不同刺激下材料的形状记忆效应的测试装置。5.根据本发明的第一方面，提供一种测试装置，包括工作室、拉伸装置、加热装置、磁场发生装置和光照装置，所述拉伸装置设于所述工作室，所述拉伸装置包括第一基板、固定件和拉伸件，所述第一基板一端连接于所述固定件，另一端连接于所述拉伸件，所述固定件设有用于夹持样品的夹持部，所述拉伸件能够与样品连接，并沿所述第一基板的长度方向移动；所述加热装置能够加热所述工作室，以加热样品；所述磁场发生装置能够产生交变磁场，以使样品发生磁热效应；所述光照装置能够朝样品发出不同波长的光线，以使样品发生光热效应。6.根据本发明实施例的测试装置，至少具有如下有益效果：7.本发明实施例可以通过加热装置加热工作室从而加热样品，还可以通过磁场发生装置使产品发生磁热效应，抑或是通过光照装置使样品发生光热效应，再通过拉伸装置拉伸样品使其产生形变，可以准确测试出样品材料在热、交变磁场和激光辐射的不同刺激响应下的形变情况，实现了在不同刺激下样品材料的形状记忆效应的测试，大大提高了样品材料的形状记忆效应测试的准确性以及便利性，减少了测试步骤，从而提高了测试的效率。8.根据本发明的一些实施例，所述磁场发生装置设于所述第一基板沿第一方向的一侧，并连接于所述工作室的内壁，所述拉伸装置还包括第一驱动组件，所述第一驱动组件与所述第一基板连接，所述第一驱动组件用于驱动所述拉伸装置沿第一方向朝向或背向所述磁场发生装置移动。9.根据本发明的一些实施例，所述光照发生装置设于所述第一基板沿第二方向的一侧，并连接于所述工作室的内壁，第二方向与第一方向相互垂直，所述拉伸装置还包括第二基板和第二驱动组件，所述第二基板一端与所述拉伸装置连接，另一端与所述第二驱动组件连接，所述第二驱动组件用于驱动所述第二基板沿第二方向移动，以驱动所述拉伸装置沿第二方向朝向或背向所述光照装置移动。10.根据本发明的一些实施例，所述第一基板远离所述固定件的一端设有第一端板，所述固定件与所述第一端板之间设有第二端板，所述第一端板和所述第二端板沿第一方向间隔设置，所述拉伸件穿设于所述第一端板和所述第二端板，所述第一驱动组件包括第一驱动器、第一滑板和第一导轨，所述第一导轨的两端分别连接于所述第一端板和所述第二端板，所述第一滑板一端连接于所述第二基板，另一端设有与所述第一导轨滑动连接的第一滑块，所述第一驱动器用于驱动所述第一滑块沿所述第一导轨滑动。11.根据本发明的一些实施例，所述第二基板背向所述第一滑块的一端设有沿第二方向间隔设置的第三端板和第四端板，所述第二驱动组件包括第二驱动器、第二滑板和第二导轨，所述第二导轨的两端分别连接于所述第三端板和所述第四端板，所述第二滑板设有与所述第二导轨滑动连接的第二滑块，所述第二驱动器用于驱动所述第二滑块沿所述第二导轨滑动。12.根据本发明的一些实施例，所述夹持部包括两个夹持件，两个所述夹持件沿所述第一基板的宽度方向间隔设置，两个所述夹持件均连接于所述固定件，以围设形成用于放置样本的工位。13.根据本发明的一些实施例，所述测试装置还包括用于监测样品的温度分布的热成像装置，所述热成像装置连接于所述工作室的内壁。14.根据本发明的一些实施例，所述测试装置还包括箱体，所述工作室设于所述箱体，所述工作室的前端侧壁为透明件。15.根据本发明的一些实施例，所述测试装置还包括摄像装置，所述摄像装置间隔设于所述透明件的前侧，所述箱体外周壁设有与所述摄像装置连接的支架。16.根据本发明的一些实施例，所述箱体设有控制面板和显示面板，所述控制面板分别与所述加热装置、所述磁场发生装置和所述光照装置电性连接，所述控制面板用于分别控制所述加热装置、所述磁场发生装置和所述光照装置，所述显示面板用于显示样品的温度。17.本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。附图说明18.下面结合附图和实施例对本发明做进一步的说明，其中：19.图1为本发明的一种测试装置实施例的示意图；20.图2为本发明的一种测试装置实施例的正视图；21.图3为本发明的一种测试装置实施例中拉伸装置的示意图；22.图4为本发明的一种测试装置实施例中第一驱动组件的仰视图；23.图5为本发明的一种测试装置实施例中材料处于拉伸状态时的示意图；24.图6为本发明的一种测试装置实施例中第一驱动组件的俯视图。25.附图标记：26.测试装置1000；样品2000；27.箱体100；工作室110；支架120；28.拉伸装置200；第一基板210；固定件220；夹持件221；工位222；拉伸件230；第二基板240；第一端板250；开孔251；第二端板260；第一驱动器261；第一滑板262；螺孔2621；安装座2622；第一导轨263；第一滑块264；凹槽2641；连接板2642；第三端板270；第四端板280；第二驱动器281；第二滑板282；第二导轨283；第二滑块284；29.加热装置300；30.磁场发生装置400；31.光照装置500；32.热成像装置600；33.摄像装置700；34.控制面板800；显示面板810。具体实施方式35.下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。36.在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、内、外等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。37.在本发明的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。38.本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。39.形状记忆高分子材料作为一种新型智能材料，具有质量轻、回复率大等优势，已经在航空航天、医疗器械等领域展现出了巨大的潜力和优势。根据材料在不同条件刺激下的响应情况，可以将其分为热致型、光致型、磁致型和电致型形状记忆高分子材料等。40.目前，形状记忆高分子材料的测试装置主要集中在对热致型形状记忆效应的测量上，该类装置只能测量热效应下高分子形状记忆材料的固定率和回复率。现有的测试装置只能应用于单一热致型形状记忆材料，无法应用于测量光、磁等不同刺激下材料的形状记忆效应。41.为此，本发明的一些实施例提出一种测试装置1000，具体参照说明书附图的图1-图6所示。42.参照图1所示，在本发明实施例中，测试装置1000包括工作室110、拉伸装置200、加热装置300、磁场发生装置400和光照装置500，拉伸装置200设于工作室110，参照图3所示，拉伸装置200包括第一基板210、固定件220和拉伸件230，第一基板210一端连接于固定件220，另一端连接于拉伸件230，固定件220设有用于夹持样品2000的夹持部，拉伸件230能够与样品2000连接，并沿第一基板210的长度方向移动；加热装置300能够加热工作室110，以加热样品2000；磁场发生装置400能够产生交变磁场，以使样品2000发生磁热效应；光照装置500能够朝样品2000发出不同波长的光线，以使样品2000发生光热效应。43.参照图1所示，在本发明实施例中，工作室110为中空结构，拉伸装置200、加热装置300、磁场发生装置400和光照装置500均可以设置子啊工作室110内，工作室110的可以为测试提供一个隔绝于外界的独立环境，减少了测试过程被外界因素干扰的可能性。同时，也保证了加热装置300直接加热工作室110时，热量能够布满在工作室110内，使样品2000材料可以得到充分的加热。44.在本发明实施例中，加热装置300可以包括加热管和热电偶，加热管和热电偶均可以设置在工作室110内并连接于工作室110的底部，其中，加热管用于作为加热工作室110的热源，热电偶可以为测温元件，从而可以实时检测工作室110内的实际温度，从而反馈至加热管，大大提高了加热装置300对温度控制的准确度。45.参照图2所示，在本发明实施例中，磁场发生装置400可以固定在工作室110的左侧内壁，拉伸装置200可以进入磁场发生装置400产生的交变磁场中。光照装置500可以设置在工作室110顶壁的后端，可以避免磁场发生装置400遮挡其发出的光线，导致光线不能完整地照射在样品2000上。光照装置500可以由可发出不同波长的激光元件组合而成，可以由计算机控制器控制光线开关与辐照强度。在本实施例中，基板可以是透光的，设置在工作室110顶壁的光照装置500发射出的光线能够透过基板照射在工位222中的样品2000材料中。46.可以理解的是，在本发明实施例中，可以分别独立进行对样品2000材料进行加热、交变磁场和激光辐射三种刺激下的形状记忆效应测试。其中，本实施例可以根据样品2000材料的特性针对性地选择刺激的类型，大大提高了测试装置1000的普适性。需要说明的是，样品2000材料的形状记忆效应的体现可以体现于形状记忆材料的固定率、回复率、响应速度等参数。47.在加热刺激的形状记忆效应测试实施例中，可以对聚乳酸基片材进行形状记忆效应测试。具体地，片材尺寸可以为100mm×10mm×5mm，也可以为其他尺寸，本实施例对此不作限定。48.在本实施例中，可以首先利用夹持部将纯聚乳酸片材夹紧，设于固定件220一侧的拉伸件230与纯聚乳酸片材连接，并记录材料初始的长度l1；控制加热装置300将工作室110中的温度加热至70℃，并令工作室110恒温5min以保证样品2000受热均匀；参照图5所示，在70℃的条件下驱动拉伸件230沿第一方向背向固定件220移动，以此对样品2000施加平行于第一方向的拉力，使样品2000拉伸至l2长度；将工作室110内温度降至25℃并使拉伸件230不与样品2000连接，再次记录材料的长度l3；一小时后再次控制加热装置300将工作室110中的温度加热至70℃，并记录此时样品2000的长度l4。得到l1、l2、l3、l4后可以计算得到聚乳酸片材在形状记忆过程中的固定率、回复率和响应速度等参数。49.在交变磁场刺激的形状记忆效应测试实施例中，可以对聚乳酸/四氧化三铁复合材料片材进行形状记忆效应测试。具体地，片材尺寸可以为100mm×10mm×5mm，也可以为其他尺寸，本实施例对此不作限定。需要说明的是，四氧化三铁具有良好的磁热效应，因此该片材具备交变磁场引发的形状记忆性能。50.在本实施例中，可以利用夹持部将聚乳酸/四氧化三铁复合材料片材夹紧，设于固定件220一侧的拉伸件230与聚乳酸/四氧化三铁复合材料片材连接；使拉伸装置200完全进入磁场发生装置400产生的交变磁场内，并记录样品2000初始的长度l1；通过磁场发生装置400使片材发生磁热效应，从而对其进行加热，具体地可以调节磁场强度以将样品2000加热至70℃，并令样品2000恒温5min以保证样品2000受热均匀；参照图5所示，驱动拉伸件230沿第一方向背向固定件220移动，以此对样品2000施加平行于第一方向的拉力，使样品2000拉伸至l2长度；关闭磁场发生装置400并将样品2000温度降至25℃，使拉伸件230不与样品2000连接，并记录样品2000的长度l3；一小时后再次通过磁场发生装置400将样品2000加热至70℃，并记录此时样品2000的长度l4。得到l1、l2、l3、l4后可以计算得到聚乳酸片材在形状记忆过程中的固定率、回复率和响应速度等参数。51.在激光辐射刺激的形状记忆效应测试实施例中，可以对聚乳酸/碳纳米管复合材料片材进行形状记忆效应测试。具体地，片材尺寸可以为100mm×10mm×5mm，也可以为其他尺寸，本实施例对此不作限定。需要说明的是，聚乳酸/碳纳米管复合材料片材，因此该片材具备在近红外光引发下的形状记忆性能。52.在本实施例中，可以利用夹持部将聚乳酸/碳纳米管复合材料片材夹紧，设于固定件220一侧的拉伸件230与聚乳酸/碳纳米管复合材料片材连接；使拉伸装置200位于光照装置500的照射范围内，并记录样品2000初始的长度l1；通过光照装置500发射近红外光，使样品2000发生光热效应，具体地可以调节近红外光强度以将片材加热至70℃，并恒温5min以保证样品2000受热均匀；参照图5所示，驱动拉伸件230沿第一方向背向固定件220移动，以此对样品2000施加平行于第一方向的拉力，使样品2000拉伸至l2长度；关闭光照装置500并将样品2000温度降至25℃，使拉伸件230不与样品2000连接，并记录样品2000的长度l3；一小时后再次通过光照装置500将样品2000加热至70℃，记录此时样品2000的长度l4。得到l1、l2、l3、l4后可以计算得到聚乳酸片材在形状记忆过程中的固定率、回复率和响应速度等参数。53.在本实施例中，拉伸件230可以直接由人手拉动，也可以与气缸连接，还可以与拉力机连接，抑或是其他的驱动方式，本领域的技术人员可以根据实际情况选择设置，本实施例对此不做限定。此外，拉伸件230的端部可以设置夹具与样品2000连接，还可以通过粘接的方式，抑或是其他的连接方式，本领域的技术人员可以根据实际情况选择设置，本实施例对此不做限定。54.本发明实施例可以通过加热装置300加热工作室110从而加热样品2000，还可以通过磁场发生装置400使产品发生磁热效应，抑或是通过光照装置500使样品2000发生光热效应，再通过拉伸装置200拉伸样品2000使其产生形变，可以准确测试出样品2000材料在热、交变磁场和激光辐射的不同刺激响应下的形变情况，实现了在不同刺激下样品2000材料的形状记忆效应的测试，大大提高了样品2000材料的形状记忆效应测试的准确性以及便利性，减少了测试步骤，从而提高了测试的效率。55.参照图2所示，在本发明实施例中，磁场发生装置400设于第一基板210沿第一方向的一侧，并连接于工作室110的内壁，拉伸装置200还包括第一驱动组件，第一驱动组件与第一基板210连接，第一驱动组件用于驱动拉伸装置200沿第一方向朝向或背向磁场发生装置400移动。56.参照图3所示，在本发明实施例中，固定件220设于第一基板210的一端，第一驱动组件设置在第一基板210的另一端并连接于第一基板210的下端面，第一驱动组件能够驱动第一基板210沿第一方向移动，其中，第一基板210的长度方向可以平行于第一方向。第一驱动组件驱动第一基板210移动，从而驱动连接于第一基板210的固定件220、拉伸件230以及安装于工位222上的样品2000材料沿第一方向移动，使拉伸装置200能够朝向或背向磁场发生装置400移动，即可以调整样品2000与磁场发生装置400产生的交变磁场的距离。57.参照图2所示，在本发明实施例中，光照发生装置设于第一基板210沿第二方向的一侧，并连接于工作室110的内壁，第二方向与第一方向相互垂直，拉伸装置200还包括第二基板240和第二驱动组件，第二基板240一端与拉伸装置200连接，另一端与第二驱动组件连接，第二驱动组件用于驱动第二基板240沿第二方向移动，以驱动拉伸装置200沿第二方向朝向或背向光照装置500移动。58.参照图3所示，在本发明实施例中，第一驱动组件可以固定在第二基板240的上端面，第二基板240的下端面可以设置第二驱动组件，其中，第二基板240的长度方向与第一季版的宽度方向相互垂直，且第二基板240的长度方向平行于第二方向。第二驱动组件驱动第二基板240移动，从而驱动连接于第二基板240的第一驱动组件，以及固定件220、拉伸件230以及安装于工位222上的样品2000材料沿第二方向移动，使拉伸装置200能够朝向或背向光照装置500移动，即可以调整样品2000与光照装置500以及发热装置的距离。59.参照图3所示，在本发明实施例中，第一基板210远离固定件220的一端设有第一端板250，固定件220与第一端板250之间设有第二端板260，第一端板250和第二端板260沿第一方向间隔设置，拉伸件230穿设于第一端板250和第二端板260，第一驱动组件包括第一驱动器261、第一滑板262和第一导轨263，第一导轨263的两端分别连接于第一端板250和第二端板260，第一滑板262一端连接于第二基板240，另一端设有与第一导轨263滑动连接的第一滑块264，第一驱动器261用于驱动第一滑块264沿第一导轨263滑动。60.参照图4所示，在本发明实施例中，第一基板210的两端分别与固定件220和第一端板250连接，第二端板260设置在二者之间，第二端板260和第一端板250的间隔距离决定了第一导轨263的长度，即拉伸装置200沿第一方向移动的范围。参照图3所示，在本发明实施例中，第一端板250和第二端板260可以设置与拉伸件230匹配的开孔251，开孔251的设置可以为拉伸件230沿第一方向的移动起到导向的作用，大大提高了拉伸件230移动的方向准确性。参照图6所示，在本发明实施例中，第一滑板262可以设置套设于拉伸件230的安装座2622，不仅进一步提高了拉伸件230移动的方向准确性，还可以提高其移动时的稳定性。61.参照图6所示，在本发明实施例中，第一导轨263可以设置两条，两条导轨可以设置在拉伸件230的两侧且关于拉伸件230对称，与之对应地，第一滑板262中也可以设置沿第一基板210的宽度方向间隔设置在拉伸件230两侧的第一滑块264，其中，第一滑块264还可以沿第一基板210的长度方向间隔设置两个以上，从而提高第一驱动组件驱动拉伸装置200移动时的方向准确性以及稳定性。在本实施例中，第一驱动器261可以驱动第一滑块264沿第一导轨263滑动，从而驱动拉伸装置200沿第一方向移动，进而改变样品2000与磁场发生装置400之间的距离。62.参照图3所示，在本发明实施例中，第一端板250和第二端板260的下端面还可以连接有连接板2642，第一滑板262可以与连接板2642滑动连接，具体地，第一滑板262的下端面可以设置与连接板2642匹配的凹槽2641，从而实现二者的滑动连接。第一滑板262的凹槽2641与连接板2642的滑动连接可以进一步提高拉伸装置200沿第一方向移动时的方向准确性以及稳定性。此外，第一滑板262的凹槽2641侧壁朝向第二基板240的一端可以设置多个螺孔2621，第一滑板262可以通过螺钉实现与第二基板240上端面的固定连接。63.参照图3所示，在本发明实施例中，第二基板240背向第一滑块264的一端设有沿第二方向间隔设置的第三端板270和第四端板280，第二驱动组件包括第二驱动器281、第二滑板282和第二导轨283，第二导轨283的两端分别连接于第三端板270和第四端板280，第二滑板282设有与第二导轨283滑动连接的第二滑块284，第二驱动器281用于驱动第二滑块284沿第二导轨283滑动。64.参照图3所示，在本发明实施例中，第三端板270和第四端板280间隔设置在第二基板240的下端面，第三端板270和第四端板280的间隔距离决定了第二导轨283的长度，即拉伸装置200沿第二方向移动的范围。第二驱动器281可以驱动第二滑块284沿第二导轨283滑动，从而驱动拉伸装置200沿第二方向移动，进而改变样品2000与光照装置500之间的距离。需要说明的是，在本实施例中，第一驱动器261和第二驱动器281可以是电机通过传动组件与滑块连接，也可以是其他的驱动设备驱动滑块，本实施例对此不做限定。65.参照图4或图5所示，在本发明实施例中，夹持部包括两个夹持件221，两个夹持件221沿第一基板210的宽度方向间隔设置，两个夹持件221均连接于固定件220，以围设形成用于放置样本的工位222。66.可以理解的是拉伸件230沿第一基板210的长度方向拉伸样品2000，为了固定样品2000，参照图4所示，在本发明实施例中，两个夹持件221可以沿第一基板210的宽度方向间隔设置，二者间隔的距离可以根据样品2000的尺寸大小针对性设置，本实施例对此不做限定。67.参照图2所示，在本发明实施例中，测试装置1000还包括用于监测样品2000的温度分布的热成像装置600，热成像装置600连接于工作室110的内壁。68.参照图2所示，在本发明实施例中，热成像装置600可以固定在工作室110后端的内壁。在本实施例中，当测试装置1000进行交变磁场刺激的形状记忆效应测试以及进行激光辐射刺激的形状记忆效应测试的时候，可以在磁场发生装置400或光照装置500对样品2000进行加热后检测并记录样品2000的温度分布，从而可以得到高分子材料在不同刺激响应下的温度分布，进而更好地得到材料的形状记忆性能。69.参照图1所示，在本发明实施例中，测试装置1000还包括箱体100，工作室110设于箱体100，工作室110的前端侧壁为透明件。70.在本发明实施例中，透明件可以是透明隔热玻璃，透明件的设置可以让测试人员观察高分子形状记忆材料加热过程，方便测试人员检测工作室110内部的实时状态，保证测试可以在监测下进行。此外，隔热玻璃的设置可以保持工作室110内的温度，降低工作室110内的温度损失，提高了测试的准确度。71.参照图1所示，在本发明实施例中，测试装置1000还包括摄像装置700，摄像装置700间隔设于透明件的前侧，箱体100外周壁设有与摄像装置700连接的支架120。72.在本发明实施例中，摄像装置700可以是摄像头，摄像头可以透过透明件拍摄内部的实时状态。此外，摄像头可以通过视频数据检测得到样品2000的型变量，即样品2000的长度变化，减少了测试人员测量样品2000型变量的工作步骤，提高了测试的简便度以及效率。73.参照图1所示，在本发明实施例中，箱体100设有控制面板800和显示面板810，控制面板800分别与加热装置300、磁场发生装置400和光照装置500电性连接，控制面板800用于分别控制加热装置300、磁场发生装置400和光照装置500，显示面板810用于显示样品2000的温度。74.在本发明实施例中，显示面板810可以显示样品2000的实时温度，测试人员可以根据温度反馈通过控制面板800控制加热装置300、磁场发生装置400或光照装置500的功率，从而可以更为准确地调整样品2000的实时加热温度，提高了测试的准确度。75.上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明的各实施例技术方案的范围。









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